Candela 8720
Candela 8720 是 KLA (原 KLA-Tencor) 推出的一款 先进的晶圆缺陷光学检测设备，用于高端复合半导体材料的表面和外延层缺陷快速检测与分析。它结合了多种光学检测技术和自动化 SPC（统计过程控制）流程，帮助半导体制造商提升质量控制水平与产线良率。
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Hitachi-S9220
Hitachi S-9220 是由 日立（Hitachi） 生产的一款 高性能扫描电子显微镜（SEM），常用于半导体和纳米材料等领域的精密检测与分析。它也常见作 CD-SEM（Critical Dimension SEM），用于微纳工艺关键尺寸（CD）的测量与成像
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PANalytical XRD
PANalytical XRD 指的是由荷兰 PANalytical（现为 Malvern Panalytical） 研发生产的 X 射线衍射仪器（X-Ray Diffraction，XRD）。这类设备用于材料科学、化学、矿物学、半导体、薄膜等领域的晶体结构分析与材料定性/定量检测。